PhotriX 小光斑测温仪 太阳能、晶体生长过程小目标红外测温仪
PhotriX系列的性能体现在其传统的镜头配置。这一配置用于从远处或通过视窗/视口观测目标，被广泛地应用于先进材料、

太阳能、晶体生长过程以及 半导体应用领域。该配置提供五个不同的近红外光谱响应(880 nm, 900 nm, 1550 nm以及700-1650 nm)。测温范围为75 °C-2600 °C。可供选配的配件包含了工业安装用的带有空气吹洗的保护冷却套

主要特性
低温测量功能（具体内容请参照以下表格）；
65°C温度条件下光谱响应为700-1650nm
125°C温度条件下光谱响应为1550nm
270°C温度条件下光谱响应为900nm
280°C温度条件下光谱响应为880nm
490°C温度条件下光谱响应为650nm
光斑尺寸小，最小为0.5毫米（在99%能源条件下）；
响应时间短，仅1毫秒；
精确度+/- 1.5 °C或读数的0.15%；
精度0.01 °C（详见技术资料TN-828）。

简要描述
Photrix系列是我们精确的测温仪，拥有行业内较好的信噪比，可测量低温，实现小光斑尺寸以及快速响应时间（1毫秒）。标准镜头配置有5种光谱响应（波长），
模拟输出(用户可选4-20mA或0-10V)、带有镜头吹扫的保护硬件以及多通道接口模块（单个数字信号最多可使用8个传感器）可供选择。标准系统包括所有必要的电缆、电源、电脑接口软件以及存档/校正系统。
典型应用
具有低辐射率的金属；
铝；
铜铟镓硒(CIGS)薄膜太阳能沉积；
非晶硅薄膜沉积；
激光加热过程；
直拉晶体生长；
光纤拉丝；
感应加热。